我校大型微波暗室——NSI天线测试系统
发布时间：2017-10-16
点击次数：
UESTC 天线测量系统由平面近场测量系统、柱面近场测量系统、远场测量系统组成,测试频率范围为750MHz-40GHz。机械子系统由NSI-300V-30×30（9.1X9.1m）扫描架、柱面转台NSI-SC-5635，远场转台NSI-SC-5670组成。
上图为平面扫描架
Ø平面近场有效扫描行程：9.1米×9.1米
Ø平面近场扫描架平面度：<0.05mm
Ø测试系统工作频率范围：0.75－40GHz
上图为测试系统框图
上图为远场测试平台。
Ø远场天线测试两维转台：上俯仰＋下方位
Ø远场天线测试两维转台承重：>300Kg
Ø远场两维转台俯仰方向角：－45度至＋90度
Ø远场两维转台方位方向角：0－360度
Ø增益测量最大测量误差≤±0.2dB（不含标准增益喇叭自身误差）
Ø副瓣电平最大测量误差
CW测量： -20dB副瓣时≤±1dB
-30dB副瓣时≤±2dB
-45dB副瓣时≤±3dB
脉冲测量：-20dB副瓣时≤±1.5dB