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    高斌

    • 教授 博士生导师
    • 性别:男
    • 毕业院校:英国纽卡斯尔大学
    • 学历:博士研究生毕业
    • 学位:哲学博士学位
    • 在职信息:在岗
    • 所在单位:自动化工程学院
    • 学科:信号与信息处理
      测试计量技术及仪器
      检测技术与自动化装置
    • 办公地点:C2-403
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    Unsupervised Sparse Pattern Diagnostic of Defects with Inductive Thermography Imaging System

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    发表刊物:IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL INFORMATICS

    摘要:This paper proposes an unsupervised method for diagnosing and monitoring defects in inductive thermography imaging system. The proposed method is fully automated and does not require manual selection from the user of the specific thermal frame images for defect diagnosis. The core of the method is a hybrid of physics-based inductive thermal mechanism with signal processing-based pattern extraction algorithm using sparse greedy based Principal Component Analysis (SGPCA). An internal functionality is built into the proposed algorithm to control the sparsity of SGPCA.

    全部作者:Wai Lok Woo,Yunze He,Guiyun Tian

    通讯作者:Bin Gao

    学科门类:工学

    卷号:12

    期号:1

    页面范围:371-383

    是否译文:

    发表时间:2016-02-02