廖永波 (副教授)

副教授 硕士生导师

主要任职：教师

性别：男

学历：博士研究生毕业

学位：工学博士学位

入职时间：1999-07-01

学科：微电子学与固体电子学

办公地点：清水河校区国际创新中心B栋419

电子邮箱：

    同专业硕导
  • 其他栏目
当前位置: 廖永波教师主页 >> 科学研究 >> 论文成果

Full coverage location of logic resource faults in A SOC co-verification technology based FPGA functional test environment

点击次数：

发表刊物：2009 IEEE 8th International Conference on ASIC

论文类型：会议论文

文献类型：C

是否译文：否

上一条： A HW/SW Co-Verification Technique for Field Programmable Gate Array (FPGA) Test

下一条： Full coverage manufacturing testing for SRAM-based FPGA