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Test points selection for analog fault dictionary techniques (51).

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备注：Journal of Electronic Testing-Theory and Applications, 2009, 25(2-3):157-168

全部作者： Bing Long., Shulin Tian,Chenglin Yang

是否译文：否

上一条：A novel test points selection method for analog fault dictionary techniques (54).

下一条：A test points selection method for analog fault dictionary techniques (53)