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    阮爱武

    • 研究员 硕士生导师
    • 性别：女
    • 学历：博士研究生毕业
    • 学位：工学博士学位
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    A bitstream readback-based automatic functional test and diagnosis

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    备注：method for Xilinx FPGAs  to be published in Microelectronics Reliability (Elsevier).

    全部作者： et al,Aiwu Ruan

    是否译文：否


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