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    阮爱武

    • 研究员 硕士生导师
    • 性别：女
    • 毕业院校：西北工业大学
    • 学历：博士研究生毕业
    • 学位：工学博士学位
    • 在职信息：在职人员
    • 所在单位：集成电路科学与工程学院（示范性微电子学院）
    • 办公地点：211楼507
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    A Parasitic Effect – Free Test Scheme for Ferroelectric Random Access Memory (FRAM)

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    备注：IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis, April, 2009.

    全部作者： et al,A.W. Ruan

    是否译文：否


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