高斌
开通时间:..
最后更新时间:..
点击次数:
发表刊物:IEEE Transactions on Image Processing
备注:Code is linked: https://github.com/bozhenhhu/Deep-Learning-Models-for-Defect-Detection
全部作者:Wai Lok Woo,Lingfeng Ruan,Jikun Jin,Yang Yang,Yongjie Yu
第一作者:Bozhen Hu
通讯作者:Bin Gao
卷号:30
页面范围:472-486
是否译文:否
发表时间:2021-01-13