现代光电测控及仪器实验室
通用链接
电子科技大学
English
手机版
首页
实验室简介
师资队伍
团队领导
创始人
团队教师
工程师
研究方向
研究概况
科研项目
研究案例
招生信息
团队动态
新闻资讯
成员投稿
科研成果
论文成果
专利成果
获奖信息
著作成果
人才培养
我的链接
关于我们
当前位置:
现代光电测控及仪器实验室MOEMIL
-
科研成果
-
专利成果
专利成果
一种线缆表观缺陷检测和字符识别装置
所属单位:
电子科技大学
教研室:
现代光电测控及仪器实验室
专利类型:
发明
专利状态:
授权专利
申请号:
201510205975.2
发明人数:
11
是否职务专利:
否
申请日期:
2015-04-28
授权日期:
2017-06-16
上一条:
一种各向异性导电膜中粒子的检测方法
下一条:
一种线缆表观缺陷检测和字符识别装置