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现代光电测控及仪器实验室

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专利成果

一种各向异性导电膜中粒子的检测方法

所属单位：
电子科技大学
教研室：
现代光电测控及仪器实验室
专利类型：
发明
专利状态：
授权专利
申请号：
201510140140.3
发明人数：
11
是否职务专利：
否
申请日期：
2015-03-30
授权日期：
2017-06-13

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