现代光电测控及仪器实验室
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一种各向异性导电膜中粒子的检测方法

  • 所属单位:
    电子科技大学
  • 教研室:
    现代光电测控及仪器实验室
  • 专利类型:
    发明
  • 专利状态:
    授权专利
  • 申请号:
    201510140140.3
  • 发明人数:
    11
  • 是否职务专利:
  • 申请日期:
    2015-03-30
  • 授权日期:
    2017-06-13