周琦
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发表刊物:IEEE Electron Device Letters
全部作者:Kevin J Chen,SJ Cai,ZH Feng,Chunhua Zhou,Hongwei Chen
第一作者:Qi Zhou
卷号:33
期号:1
页面范围:38-40
是否译文:否
下一条:A High-Accuracy AlGaN/GaN Reverse Blocking CRD (RB-CRD) with Hybrid Trench Cathode